你即將離開本站

並前往https://www.cnblogs.com/gujiangtaoFuture/articles/10058561.html

芯片封装测试CP,FT,WT基本概念- 大海在倾听 - 博客园

可以节省封装成本（MPW阶段，不需要；fullmask量产阶段，才有节省成本的意义）。 c. 需要保证：基本功能成功即可，主要是机台测试成本高。高速信号不可能 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「ft測試機台」的人也找了：

  1. ft測試治具
    2.
  2. 半導體測試機台
    3.
  3. ft測試項目
    4.
  4. FT測試流程
    5.
  5. handler機台
    6.
  6. cp測試機台
    7.
  7. ic測試流程
    8.
  8. ic測試項目
    9.