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在 ic測試流程產品中有2篇Facebook貼文,粉絲數超過2萬的網紅COMPOTECHAsia電子與電腦 - 陸克文化,也在其Facebook貼文中提到, #EDA #自動測試向量生成ATPG #汽車電子 #ASIL D #ISO26262 【ATPG,衡量 IC 「測試錯誤覆蓋率」的重要指標】 市場對電子產品智慧化、小型化的需求,IC 晶片的密度和集成度越來越高,導致 IC 製造商必須以更先進的製程來設計製造晶片,才能跟上市場腳步。...
同時也有1部Youtube影片,追蹤數超過75萬的網紅志祺七七 X 圖文不符,也在其Youtube影片中提到,生活中的3C產品竟然都跟「加工出口區」有關係? 半導體封測產業群聚在這裡蓬勃發展,科技產業含金量超乎你的想像! #加工出口區 #半導體封測產業群聚 經濟部加工出口區管理處:https://www.epza.gov.tw/ ✔︎ 成為七七會員(幫助我們繼續日更,並享有會員專屬福利):htt...
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ic測試流程 在 志祺七七 X 圖文不符 Youtube 的最佳貼文
2020-09-27 19:00:00生活中的3C產品竟然都跟「加工出口區」有關係?
半導體封測產業群聚在這裡蓬勃發展,科技產業含金量超乎你的想像!
#加工出口區 #半導體封測產業群聚
經濟部加工出口區管理處:https://www.epza.gov.tw/
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各節重點:
00:00 前導
01:27 什麼是「半導體」?
02:39 台灣的半導體產業
04:19 IC封裝測試是什麼?
06:30 高科技的加工出口區
07:59 我們的觀點
09:34 結尾
【 製作團隊 】
|企劃:冰鱸
|腳本:冰鱸
|編輯:土龍
|剪輯後製:絲繡
|剪輯助理:范范、歆雅
|演出:志祺
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【 本集參考資料 】
→一顆新5G晶片的誕生會經過哪些步驟?白話文解析IC產業鏈全貌:https://bit.ly/2FQpS0s
→半導體(wiki):https://bit.ly/2HzGhH7
→積體電路封裝(wiki):https://bit.ly/362QNRj
→隨著半導體技術與需求不斷演進的封測產業:https://bit.ly/3mTuG5R
→5G時代封測端如何打破「三明治」格局?:https://bit.ly/3i3SGzi
→半導體產業鏈簡介:https://bit.ly/3j3ocim
→什麼是IC封測:封裝與測試的流程步驟:https://bit.ly/33Z6V3t
→晶圓代工爭霸戰:半導體知識(前傳):https://bit.ly/3mQtpMO
→一看就懂的 IC 產業結構與競爭關係:https://bit.ly/3j3OXTV
→『半導體產業』:晶片有如人腦般聰明,運用在人類 6 大領域,迎接智能新時代!:https://bit.ly/3mOdAWN
→謝金河:誰來經營大高雄?:https://bit.ly/3jgbf53
→一顆晶片翻轉世界:https://bit.ly/331nDA5
→差距擴大?!中國封測行業最「接近」海外競爭對手的幾個真相:https://bit.ly/2HqFVSN
→〈分析〉後摩爾定律時代 先進封測設備前景怎麼看?:https://bit.ly/369O08O
→超越南韓!2019 年台灣重回半導體產值第二,2020 年市場將谷底翻揚:https://bit.ly/2RXhYob
→百位先鋒回娘家!加工出口區管理處歡慶53週年:https://bit.ly/3mOdCxT
→高雄電子走過半世紀 百名老員工「回娘家」歡聚:https://bit.ly/3csVN2P
→特別企畫》走過50年…看台灣半導體 如何由勞力賺外匯 成功扭轉成全球指標產業?:https://bit.ly/3cuTCvo
→台灣半導體科技的幕後推手與展望:https://bit.ly/362R9Y9
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ic測試流程 在 COMPOTECHAsia電子與電腦 - 陸克文化 Facebook 的精選貼文
#EDA #自動測試向量生成ATPG #汽車電子 #ASIL D #ISO26262
【ATPG,衡量 IC 「測試錯誤覆蓋率」的重要指標】
市場對電子產品智慧化、小型化的需求,IC 晶片的密度和集成度越來越高,導致 IC 製造商必須以更先進的製程來設計製造晶片,才能跟上市場腳步。同時,晶片複雜度提升也拉長設計驗證過程,設計人員迫切需要更具生產效率的工具以完成 16nm,10nm 甚至 7nm 製程晶片的設計任務。
新一代電子設計自動化 (EDA) 工具以新的測試生成、故障模擬及診斷引擎為基礎而設計,這些引擎運作極快速、具備超高記憶體效率且針對型樣生成優化設計,大幅減少測試型樣,進而縮短時程並降低測試矽晶成本,讓「自動測試向量生成」(Automatic Test Pattern Generation, ATPG) 工程時間,從數天大幅縮短至數小時。
ATPG 意指半導體電氣測試時,使用測試圖形向量由程式自動生成的過程,是 IC 設計驗證的重要方法,其有效性是衡量「測試錯誤覆蓋率」的重要指標。另一項作用是:能根據汽車先進駕駛輔助系統 (ADAS) 等特定產業/市場需求,在不影響測試成本的情況下提升品質,滿足對 IC 可靠性及功能安全性的嚴苛要求。
此外,重複使用經生產驗證的 ATPG 介面,可確保在 IC 設計及測試流程中達成簡單且零風險的佈署。
延伸閱讀:
《Synopsys:IC密度促生更高效設計工具》
http://compotechasia.com/a/celue___/2016/0719/32510.html
#新思科技Synopsys #TetraMAX II
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ic測試流程 在 新電子科技雜誌 Facebook 的最佳貼文
3D IC測試成本評估工具出爐了!
比利時微電子研究中心(IMEC)與代爾夫特理工大學(Delft University of Technology, TU Delft)共同合作,研發出2.5/3D晶片測試流程成本模型分析工具--3D-COSTAR,其藉由考量良率及設計、製造、封裝、測試和物流等成本,優化3D IC的測試流程。