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宜特推出現成晶片測試治具解決方案 - 新通訊

為解決IC設計者在研發階段，想要製作少量的封裝體進行後續測試，卻找不到 ... 符合需求的測試治具/載具，以利後續有效進行最終測試(Final Test, FT)。

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