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高階邏輯IC 產品之分類機測試參數最佳化研 - 中華大學

試機台訴求測試良率高(誤宰率低),而IC 外觀品質的製程能力指 ... FT),一般測試廠業務訂單以最終測試(FT)為大宗,其流程. 亦較來得複雜。因此,本文所探討的對主題選定為 ...

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