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[转贴] 關注去美化看半導體測試設備 - I3investor

CP 測試: 在wafer 的階段, 封裝之前, 通過探針卡對晶片進行性能及功能測試, 主要用到的設備是測試機和探針台等. FT 測試: 指的是晶片在封裝完成以後 ...

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