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半導體廠商如何做晶元的出廠測試？ - GetIt01

而為了保證出廠的晶元都是沒問題的, final test也即FT測試是最後的一道攔截, ... 一般我們稱之為DIB or PIB or HIB , 以連接ATE機台的instrument和晶元本身.

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