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30奈米DRAM儲存節點連接之良率改善

... 次要則是底層結構影響曝光時自動對焦的行為。 本論文在研究如何改善動態隨機存取記憶體（Dynamic Random Access Memory，DRAM）的良率，研究對象為30奈米後段製程 ...

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