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電気的不良位置特定解析とSEM／SAM観察の基礎 - EDN Japan

超音波 の反射や透過を利用した顕微鏡を超音波顕微鏡（SAM：Scanning Acoustic Microscope）と呼ぶ。 超音波は、物質に当たると、一部は反射し、一部は透過 ...

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