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深度解讀晶片測試：三大機器貫穿全流程，國產裝置 ... - sa123

看點：測試裝置貫穿晶片製造的整個流程，對於晶片的效能和可靠性至關重要。 ... 晶圓測試又稱為CP測試，是指在晶圓製造完成後和進行封裝前，透過探針臺和測試機配合 ...

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