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晶圓級參數測試- NI

使用NI PXI 與NI 半導體測試系統，便能在不犧牲量測品質的情況下，減少晶圓級參數測試系統的佔用空間。 ... 有了PXI 平台與LabVIEW 後，Imec 不僅能提升其半導體流程的 ...

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