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cp測試機台
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第二十三章半導體製造概論
晶圓針測(Chip Probing;CP)的目的係針對晶片作電性功能上的測試(Test),以使IC ... 一般測試廠為了提高測試機台的使用率,除了提供最終測試的服務外,亦接受晶.
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