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應用TRIZ 理論於探針卡測試設備研發

對於晶圓（wafer）製造及封裝測試等半導體產業. 鏈而言，晶圓於其積體電路（integrated circuit, IC）特徵. 製造及封裝後皆需進行探針檢測，目的在過濾電性功能. 不良之 ...

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