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詳解晶片測試:三大機器貫穿全流程,國產設備突飛猛進
晶圓測試又稱為CP測試,是指在晶圓製造完成後和進行封裝前,通過探針台和測試機配合使用,對晶圓上的每一個晶片晶粒進行功能和電參數性能測試的過程,是晶 ...
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