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〈觀察〉晶片產量、測試時程雙成長測試介面蹲馬步備戰 - 鉅亨

業者看好，由於半導體不斷往先進製程推進，晶片不僅線距微縮、測試時程也大幅拉長，探針卡因扮演測試機台與待測晶圓間的媒介，隨著測試點位增加，撞擊次數 ...

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