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A 半導體積體電路測試概論第二章半導體測試基本概念 - 白安鵬

但Wafer Prober設備，並不具備探測的能力。它只是將晶圓片，載入機台內，並將晶圓片與測試頭的測試探針，做正確的接觸 ...

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