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一文看懂半導體檢測設備| 尋夢科技
晶圓檢測可分為矽片測試及晶圓中測(CP測試),應用在封裝之前,CP檢測意義重大。在晶片製造過程中,晶圓在氧化前的過程屬於矽片製造的范疇,這部分的設備 ...
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