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資料探勘技術在晶圓針測誤宰分析之應用Applying Data Mining ...

然而，由於測試時可能因為測試機台、針測機或探針卡的穩定性不足、操. 作人員的參數設定動作不確實，而造成將良品的晶粒誤判為壞品的誤宰(Overkill).

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