你即將離開本站

並前往https://min.news/zh-tw/economy/e924ab208543ce9cee0d4aabe1bfb560.html

美國KLA獨霸半導體檢測設備市場，國產替代的最大阻力如何搬？

1）量測類設備：主要用來測量透明薄膜厚度、不透明薄膜厚度、膜應力、摻雜濃度、關鍵尺寸、套准精度等指標，對應的設備分為橢偏儀、四探針、原子力顯微鏡、CD-SEM、OCD ...

確定！ 回上一頁

查詢 「cd-sem半導體」的人也找了：

  1. cd sem原理
    2.
  2. ocd vs cd-sem
    3.
  3. cd sem量測原理
    4.
  4. cd-sem metrology
    5.
  5. cd sem是什麼
    6.
  6. 半導體cd定義
    7.
  7. 半導體cd值
    8.
  8. 半導體 線寬 定義
    9.