你即將離開本站

並前往http://www.mem.com.tw/arti.php?sn=1408150002

檢測10奈米以下半導體CD-SEM量測技術邁大步 - 新電子

半導體進入10奈米以下技術節點或三維(3D)結構時，將面臨嚴重的導孔偏移問題，所幸，設備商已研發出具備更高影像解析能力的微距量測掃描式電子顯微鏡(CD-SEM)， ...

確定！ 回上一頁

查詢 「cd量測」的人也找了：

  1. critical dimension定義
    2.
  2. 半導體cd定義
    3.
  3. cd sem量測原理
    4.
  4. 半導體cd意思
    5.
  5. ADI AEI ASI
    6.
  6. ocd vs cd-sem
    7.
  7. cd sem原理
    8.
  8. cd-sem是什麼
    9.