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以臨界角法結合CCD 影像擷取技術作表面形貌量測之研究

制技術的大幅提升；另一方面是由於尖端技術、精密工程等對零件的精密度提出越來越高的要求。 貳、 研究方法. 一、臨界角反射率與待測物角度偏向原理.

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