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全球業務行銷處陳紹焜副總經理報告日期 - WinWay

半導體 測試介面研發設計製造. ◇ 高階邏輯IC測試座(Test Socket). ◇ 高階老化測試座(Burn-in Socket). ◇ 晶圓測試垂直探針卡(Vertical Probe Card).

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