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aes xps比較
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材料测试与表征:XPS和AES有何不同。。TEM样品制备技术 ...
主要有:俄歇电子能谱分析(AES)、X射线光电子能谱分析(XPS) 、紫外光电子能 ... 而在损伤点,表面的C,O含量很高,而Si, N元素的含量却比较低;
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