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xps深度分析 - 軟體兄弟

xps 深度分析,來，不會破壞樣品表層，這使得XPS 常被用來作材料分析。一般檢測限為. 0.1at%，樣品的探測深度（d）由電子的逃逸深度（λ，受X 射線波長和樣品狀.

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