为了进一步研究相变过程,对RF/SiO2、RF/SiO2-800℃和RF/SiO2-1500℃样品进行晶相分析,其XRD图谱如图3所示。 ... 极子的极化。在2.00~6.00 GHz的低频段,材料的ε''随着 ...
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