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單晶X射線繞射：用於解析晶態物質中分子的整體結構

X射線回擺曲線分析法：用於定量測量晶態物質的粒度大小和鑲嵌度散布。 以上資料來自維基百科 圖片為合成粉末的XRD圖. 黃汨鉦and 21 others.

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