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高解析電子背向繞射在極低碳冷軋鋼片初期再結晶研究的應用

過去的變形與再結晶集合組織研究中，主要都以X 光繞射(X-Ray Diffraction, XRD) 測量材. 料的極圖(pole figure)，再利用極圖計算結晶方位分布函數。由於X 光繞射的偵測面積 ...

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