你即將離開本站

並前往https://www.daytime.cool/tech/4893659.html

tof-sims分析——看完你就懂了！ - 日間新聞

飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間不同 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「ToF-SIMS」的人也找了：

  1. tof sims xps比較
    2.
  2. sims分析
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. ToF 飛行時間
    5.
  5. ToF 公式
    6.
  6. 二次離子質譜儀
    7.
  7. SIMS 縱深分析
    8.
  8. 飛行時間質譜儀
    9.