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MST｜［TOF-SIMS］飛行時間型二次イオン質量分析法

最表面を高感度で分析可能; HからUまでの全元素、C,H,N,O,P,Sなどからなる有機物の分子イオンが取得可能; イメージ分析が可能; 有機・無機化合物の構造解析・同定が ...

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