你即將離開本站

並前往https://kore.co.uk/products/kore-surfaceseer-i-tof-sims/?lang=zh-hans

Kore SurfaceSeer I TOF-SIMS

SurfaceSeer-I是一个高灵敏度的TOF-SIMS，用于绝缘和导电表面的成像和化学绘图。SurfaceSeer-I是研究表面化学性质的理想之选，同样适用于研发以及工业质量控制应用。

確定！ 回上一頁

查詢 「ToF-SIMS」的人也找了：

  1. tof sims xps比較
    2.
  2. sims分析
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. ToF 飛行時間
    5.
  5. ToF 公式
    6.
  6. 二次離子質譜儀
    7.
  7. SIMS 縱深分析
    8.
  8. 飛行時間質譜儀
    9.