你即將離開本站

並前往https://www.nottingham.ac.uk/isac/facilities/tof-sims/tof-sims.aspx

Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS)

Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) is a highly sensitive analytical technique that describes the chemical composition and ...

確定！ 回上一頁

查詢 「ToF-SIMS」的人也找了：

  1. tof sims xps比較
    2.
  2. sims分析
    3.
  3. 飛行時間質譜儀原理
    4.
  4. ToF 飛行時間
    5.
  5. ToF 公式
    6.
  6. 二次離子質譜儀
    7.
  7. SIMS 縱深分析
    8.
  8. 飛行時間質譜儀
    9.