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TOF-SIMS | 概念理论| 技术资料

二次离子质谱（SIMS）的概念非常简单，一批拥有相同动能的离子按质量对电荷比的顺序飞行经过一条无电磁场的真空管到达离子检测器。该检测器输出电流，以时间为函数， ...

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