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一文認識TOF-SIMS - 每日頭條

飛行時間-二次離子質譜儀（TOF-SIMS），是一種非常靈敏的表面分析技術。它利用一次離子激發樣品表面微量的二次離子，根據二次離子飛行到探測器的時間 ...

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