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TOF-SIMS原理和常见问题解答_离子 - 手机搜狐网

一、TOF-SIMS 飞行时间二次离子质谱仪介绍. TOF -SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的 ...

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