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TOF-SIMS(飛行式二次離子質譜) - 歐陸檢驗

TOF -SIMS（飛行式二次離子質譜）是將一次離子脈衝束聚焦在樣品表面上，在濺射過程中產生二次離子的表面分析技術。分析這些二次離子可以得到有關表面上 ...

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