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二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 國立清華大學貴重儀器使用中心

二次離子質譜儀(TOF-SIMS) · 表面成份分析收費：500元/件 · 縱深分佈分析收費：1,000元/件(小時) · 平面影像分析收費：500元/件.

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