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表征掺杂浓度的近似含量- 二次离子质谱(SIMS) - 科学指南针

但成像和表面分析能力强。 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）的原理. 使用一次脉冲离子轰击固体样品表面，通过表面激发 ...

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