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第二章實驗部份2.1 實驗試劑及其來源

場發射掃描式電子顯微鏡(SEM HITACHI S-4000). 冷陰極場發射電子源，加速電壓為0.5 – 30 keV，放大倍率為20 – ... 穿透式電子顯微鏡(TEM JEOL JEM-2000).

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