鏡(STM)、原子力顯微鏡(AFM)、掃描式電子顯微鏡(SEM)以及穿透式電子顯微鏡(TEM) ... AFM 所擁有的高解析度(約0.1A),更使得在表面粗度的量測上更勝STM 一籌,也因為IC.
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