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穿透式電子顯微鏡

穿透式電子顯微鏡（TEM）一般運用於金屬、高分子、電子、陶磁材料與生醫試片的內部結構及組織分析缺陷之觀察。 儀器設備說明. * 型號： PHILIPS CM-200 TWIN，Transmission ...

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