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穿透式電子顯微鏡JEOL JEM-1400 PLUS - 國立陽明大學‧儀器 ...

穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope - TEM) 具備高解像能力，影像解析度可達0.14nm,倍率百萬倍以上，比一般影像觀察及分析工具優越許多，而廣泛地用於 ...

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