編號 2 位置 材料科技館R115-C 用途 1.電子顯微鏡觀察(SEM):高倍率放大觀察元件、薄膜等微細結構或剖面結構 2.表面能階分析(EDS):特定位置表面材料成分電子能階光譜 ...
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