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电镜技术前沿：四维电子能量损失谱（4D-EELS） - 腾讯网

北京大学物理学院高鹏研究团队与合作者基于扫描透射电子显微镜发展了四维电子能量损失谱技术（4D-EELS），首次实现了对单个纳米结构中不同位置的声子色散 ...

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