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在多晶鑽石基材上成長奈米平板鑽石3.1 前言

是，可以透過擇區繞射技術(selected area diffraction)來分析晶體結構. 及缺陷。如要觀察高解析影像時，則是透過相對比來成像。透過穿透. 電子束跟繞射電子束之間 ...

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