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工業教育與技術學刊- 第三十期民國九十五年第91~102 頁

我們將此量測技術應用在單狹縫及雙狹縫繞射實驗,以6328 A 的He-Ne 雷射光穿. 過單狹縫或雙狹縫而形成一維的繞射條紋,經由CCD 擷取繞射條紋的一維光強度分.

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