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VUV-VASE Ellipsometer薄膜厚度量測儀

大面積尺寸樣品膜厚量測，最大可達1.1 x 1.5 m · 均勻性掃描適用各種材料 · UV-VIS-IR波長可選 · 智慧型使用介面，快速定義量測區域欲測試點 · 內建完整model，快速因應各式 ...

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