配備高精度,寬量程的非接觸式渦電流測量探頭 · 具備Mapping多點量測功能,可顯示2D/3D圖像 · 最多可量測217點 · 支持2-8寸樣品 · 應用:GaAs, GaN, SiC, 金屬薄膜材料等.
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