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縱深分析
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X射線光電子能譜儀(XPS) - 貴重儀器中心- 台灣科技大學
可對於物質表面進行定性及定量的化學分析,可得知相關元素鍵結狀態訊息和百分比的含量,基本功能有全能譜圖、單元素能譜圖、元素線掃描、元素影像掃描、縱深分析、角 ...
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