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縱深分析
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X 光光電子能譜儀(XPS)
系統主要分四個部份:(1)X-Ray:提供XPS 分析之入射X 光源;(2)能量分析器:分析由. 試片表面射出的光電子能量;(3)離子槍:用來清潔試片表面以及進行縱深成份 ...
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