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X射線光電子能譜儀 - 元智大學Yuan Ze University - 研發處

l 縱深分析(Depth Profile)：樣品表面以 Ar 離子濺蝕，分析不同深度的元素成分及比例之縱深分布。 l 圖譜分析(Mapping)：檢測樣品表面分析區域的元素訊號 ...

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