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台先進封裝光學量測達次微米境界超越世界技術指標 - 中央社

為克服目前對矽穿孔製程控制的挑戰，研究團隊提出嶄新的「AI-powered光學量測技術」，開發出可深入高深比盲孔的創新光機架構，以物理光學模擬為基礎， ...

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